ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ МАТЕРИАЛОВ С ЗАДАННЫМ КОМПЛЕКСОМ СВОЙСТВ
Аннотация
Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии для исследования специальных материалов с заданным комплексом свойств. Проведен дисперсионный и элементный анализ порошковых материалов неорганических люминофоров на основе оксисульфида иттрия, обладающих фотостимулируемой модуляцией люминесценции. Гистограммы численного распределения частиц по фракциям и результаты статистического распределения дисперсионного анализа показали, что предоставленные порошки НЛ полидисперсные, размер частиц варьируется от 1 до 20 мкм. Однако, образцы П-2 и П-3 имеют бимодальное распределение. Используя режим картирования элементного состава, выявлена определенная зависимость интенсивности рассеяния элементов шихты от размеров частиц. Контроль в поверхностном слое Yb, Er, Ti, Ca позволяет формировать оптимальное сочетание специальных спектрально-кинетических характеристик в НЛ на основе Y2O5S при изменении их концентрации в составе шихты. Использование установки ионной резки SEMPrep2 впервые позволило получить точные прецизионные срезы под углами 30, 45, 90 ° и изучить внутреннюю фибриллярно-пористую структуру полимерных волокон и мембраны, окрашенных методом крейзинга, а также особенности размещения пигментов в виде микрокристаллов и микрокапсул в крейзованных материалах. Показаны особенности применения методов СЭМ и РСМА для исследования специального триплекса из осветленного стекла с металлической полосой. Регистрация спектра рентгеновского излучения и определение элементного состава стекол триплекса выявили превышение весового соотношения элементов К, Mg, Al, Sn. Металлическая полоса для обогрева триплекса содержит In. Триплекс из химически упрочненного стекла применяется при производстве стеклоизделий, в которых недопустимо ухудшение оптических свойств стекла при высоких нагрузках.
Литература
Brandon D., Kaplan U. Microstructural characterization of materials. М.: Technosphere. 2004. 384 p. (in Russian).
Goldstein J., Newbury G., Echlin P. Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis: in 2 v. M.: Мir. 1984. (in Russian).
Andreev A. A., Manashirov O. Ia., Portniagin Iu. A., Salunin A. V., Turovskii S. G. Proceedings of MIPT. 2021. V. 13. N 4(52). P. 63–75 (in Russian). DOI: 10.53815/20726759_2021_ 13_4_63.
Balabanov S.S., Gavrischuk E.M., Drobotenko V.V., Permin D.A. Vestnik of Lobachevsky State University of Nizhni Novgorod. 2011. N 2(1). P. 91–97 (in Russian).
Semenov V.V., Zolotareva N.V., Novikova O.V., Petrov B.I., Razov E.N., Kruglov A.V. Bulletin of the South Ural State University. Ser. Chemistry. 2019, V. 11. N 1. P. 58–67 (in Russian). DOI: 10.14529/chem190107.
Yarysheva L.M., Rukhlya E.G., Yarysheva A.Yu., Volynskii A.L. Review Journal of Chemistry. 2012. V. 2. N 11. Р. 3–21 (in Russian). DOI: 10.1134/S2079978011030046.
Goldade V.A., Kuzmenkova N.V., Kravchenko V.V., Sytsko V.E. Problems of Physics, Mathematics and Technics. 2014. N 1(18). P. 90–97 (in Russian).
Shevchenko A.V., Denkova E.V., Karandaeva O.N. Technologies and Materials for Extreme Conditions. 2019. N 14. P. 55–69 (in Russian). DOI: 10.26103/mz.2019.97.35.007.
Kablov E.N. Aviation Materials and Technologies. 2015. N 1(34). Р. 3–33 (in Russian). DOI: 10.18577/2017-9140-2015-0-1-3-33.
Lihachev A.I., Nashchekin A.V., Sokolov R.V., Konnikov S.G. Technical Physics. 2019. V. 89. N 3. Р. 456–459 (in Russian). DOI: 10.21883/jtf.2019.03.47185.243-18.